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公司介绍

公司名称	深圳市安达仪器仪表有限公司
LOGO	返回顶部
公司成立时间	0
注册资金	返回顶部￥万
公司规模	返回顶部 100人以下
公司区域	返回顶部
主要产品	返回顶部美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪, 韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪日本KYORITSU WAK-水质离子测试包美国WALCHEM（禾威）电镀药液自动添加系统美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品英国JENWAY分光光度计美国Kocour库仑测厚仪、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪(手提式:XRF 6500，台式:Ray-tek1800) 美国ECI电镀药液分析系统美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温湿度记录仪日本SHIMADZU(岛津)分光光度计、X射线荧光分析仪日本IWAKI工业用泵韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪美国SPELLMAN 高压电源供应器日本KETT磁感/涡流涂层测试仪俄罗斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪美国RPS可焊性测试仪美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪美国EXTECH多用途万用表美亚板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪
公司简介	注册资金：100万以上员工人数：100-200人我司为精密测试仪器代理商，在中国和香港地区独家代理美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两款仪器获得香港及国内许多PCB厂家采用，作为测试电镀层厚度的主要仪器,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下是我集团的其他主要产品：韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪日本KYORITSU WAK-水质离子测试包美国WALCHEM（禾威）电镀药液自动添加系统美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品英国JENWAY分光光度计美国Kocour库仑测厚仪、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪(手提式:XRF 6500，台式:Ray-tek1800) 美国ECI电镀药液分析系统美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温湿度记录仪日本SHIMADZU(岛津)分光光度计、X射线荧光分析仪日本IWAKI工业用泵韩国K-Mac... 返回顶部
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联系方式	返回顶部联系人：郝女士女士电话：0755-82952800 传真：手机:13420947400 电子邮箱:664521572@qq.com 联系地址:福田区梅华路深华工业园邮政编码:
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