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更新时间:2025-02-22 11:37:11 点击:561次
产品型号 | di MultiMode 8 |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 电子探针 |
品牌 | 返回顶部 Bruker |
产地 | 返回顶部 德国 |
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技术参数 | |
其他信息 | |
产品简介 |
仪器简介: MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能,无与伦比的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其先进的自动图像优化技术,使得用户无论具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。
1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头 |
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产品样本 | 此仪器尚未有相关样本 返回顶部 |
应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | 主要特点: 1. 世界上最高的分辨率 2. 出众的扫描能力 3. 优异的可操作性 4. 非凡的灵活性与功能性 5. 无限的应用扩展性 Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术,包括: •轻敲模式(Tapping Mode AFM) •接触模式(Contact Mode AFM) •自动成像模式(ScanAsyst) •相位成像模式(Phase Imaging) •横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM) •磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM) •扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM) • 力调制(Force Modulation) • 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM) • 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM) • 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) • 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement) • 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching) • 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM) • 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy) •隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA) • 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM) • 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM) • 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode) • 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode) •其他更多模式.... 返回顶部 |
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