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更新时间:2025-02-23 10:48:23 点击:3108次
产品型号 | PARTS系列 |
---|---|
参考报价 | 返回顶部 面议 |
基本规格 | |
产品类型 | 返回顶部 白光干涉测厚仪 |
品牌 | 返回顶部 美国Filmetrics |
产地 | 返回顶部 美国 |
返回顶部 我来纠错(有奖) | |
技术参数 | |
测试厚度范围 | 返回顶部 PARTS:5nm-70µm;PARTS-UV:1nm-70µm;PARTS-EXR:5nm-70µm |
波长范围 | 返回顶部 PARTS:380-1050nm;PARTS-UV:200-1100nm;PARTS-EXR:380-1700nm |
其他信息 | |
产品简介 |
产品介绍: PARTS利用垂直&偏角度双光源实现了更简便、更精确的薄膜测量。在已有分析能力强大的反射率-穿透率同时测量系统平台上,增加了散射率、临界入射角反射率的计算,从此无需建模即可对单层膜膜厚,光学常数n、k值进行测量!!多层膜的全面分析同样只需轻击鼠标即可轻松完成! 产品零配件清单: 光谱仪主机 FILMeasure 6.0 软件光碟 BK-7参考片 Al2O3参考片 Si参考片 Anti-reflector 拭镜纸 产品优势及售后服务: 拥有130多种材料的数据库 免费软件更新 工作日应用工程师24小时的技术支持 在线“手把手”支持 支持硬件升级 返回顶部 |
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应用范围 | 返回顶部此仪器尚未有相关应用 |
用户数 | 返回顶部 此仪器尚未有用户数 |
技术创新 | PARTS符合行业领先标准,极小的占地空间、通用的USB接口,确保设备安装简单便捷。整机无任何运动件,除钨卤素灯外无需其他维护,确保设备高度可靠。全面、可靠的集成 得益于计算垂直(0°)入射和角度(70°)入射的反射率和穿透率,PARTS极大了提高了对高级薄膜应用场合(如:太阳能、OLEDs等行业)的分析能力。尤其,通过计算变量R0,R70,TO,我们可以简单便捷的实现膜层厚度,n、k值的测量。而且,由于增加了对散射率计算,使膜层的粗糙度测量从其它分析上分离出来,从而让我们可以实现膜层表面粗糙度的单独测量。 返回顶部 |
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