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数字集成电路参数测试仪的设计

2015-01-21 09:47:53    益择发布
    以AT89C51单片机为核心设计了一种简易数字集成电路参数的测试仪器。测试仪采用多值参数比较法,利用单片机的数学运算和控制功能,对数字IC进行功能测试,同时完成各项直流参数测试,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换及各路测试项目的参数显示。
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